檢測設備
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X射線熒光涂層測厚儀
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產品描述
參數
產品介紹
該儀器是臺式鍍層測厚儀產品中性能最強大的X射線熒光儀器之一。 它配備了特別加大的硅漂移探測器( SDD)。50mm2的探測器窗口確保能快速而精確地測量甚至是小面積的測量點。此外,儀器還配備了各種不同的濾波片,從而能為不同的測量任務建立最優化的激發條件。
特點
配備了高性能的X射線管和大窗口的硅漂移探測器( SDD),能高精度地測量最薄的鍍層,極耐用的設計結構,能以極出色的長期穩定性用于連續測量,可編程XY平臺和Z軸,用于自動化連續測量,擁有實時的視頻顯示和輔助激光點，使得樣品定位變得快速而簡便。
應用
鍍層厚度測量測量極薄鍍層,如電子和半導體產業中厚度小于0.1um的Au和Pd鍍層,測量汽車制造業中的硬質涂層,光伏產業中的鍍層厚度測量。
材料分析
電子、包裝和消費品中按照RoHS, WEEE, CPSIA等指令對有害物質(如重金屬)進行鑒別。
分析黃金和其他貴金屬及其合金,測定功能性鍍層的組分如NiP鍍層中的P含量。
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